德国Heidenhain编码器测量基准ROD4305000

 海德汉公司的光学扫描光栅尺或编码器的 测量基准都是周期刻线－光栅。 这些光栅刻在玻璃或钢材基体上。大长度 测量用的光栅尺带的基体为钢带。 海德汉公司用特别开发的光刻工艺制造 精密光栅。 • AURODUR：在镀金钢带上蚀刻线条， 典型栅距40 µm • METALLUR：抗污染的镀金层金属线， 典型栅距20 µm • DIADUR：玻璃基体的超硬铬线（典型栅 距20 µm）或玻璃基体的三维铬线格栅 （典型栅距8 µm） • SUPRADUR相位光栅：光学三维平面格 栅线条；*抗污能力；

典型栅距不超 过8 µm • OPTODUR相位光栅：光学三维平面格 栅线条，超高反光性能，典型栅距不超 过2 µm 这种方法除了能刻制栅距非常小的光栅 外，而且刻制的光栅线条边缘清晰、均 匀。再加上光电扫描法，这些边缘清晰 的刻线是输出高质量信号的关键。 母版光栅采用海德汉公司定制的精密 刻线机制造。

 测量法是指编码器通电时就立即提供 位置值并随时供后续信号处理电子电路读 取。无需移动轴执行参考点回零操作。 位置信息来自圆光栅码盘，它由一系 列码组成。编码结构在每转中都一。 独立的增量刻轨用单场扫描原理读取和转 换成位置值。

增量测量法的光栅由周期性刻线组成。位 置信息通过计算自某点开始的增量数（测 量步距数）获得。由于必须用参考点 确定位置值，因此在光栅尺或光栅尺带上 还刻有一个带参考点的轨道。参考点确定 的光栅尺位置值可以到一个测量 步距。 因此，必须通过扫描参考点建立基准 点或确定上次选择的原点。 有时，这需要旋转近360°。为加快和简化 “参考点回零”操作，许多海德汉光栅尺 刻有距离编码参考点，这些参考点彼此相 距数学算法确定的距离。移过两个相邻参 考点后（一般只需数度）（见表中“名义 增量值 I”），后续电子电路就能找到绝 对参考点。 凡是距离编码参考点编码器在型号后均 带有字母“C”（例如RON 786C）。

 其中： Þ1 = 一个移过的参考点相对零点位置 的角度位置，单位度 abs = 值 sgn = 代数符号（“+1”或“–1”） MRR = 移过参考点间的被测距离，单位度 I = 两个固定参考点间的名义增量值 （见表） GP = 栅距（ 360° ） D = 旋转方向（+1或–1） 向右转（向角度编码器安装面看 —参见“配合尺寸”）为“+1” 

德国Heidenhain编码器测量基准ROD4305000